X-射线衍射仪(XRD)

发布时间:2017-05-14作者:佚名文章来源:本站原创 浏览次数:

仪器型号:X'Pert3Powder

生产厂家:荷兰PANalytical公司

投入日期:2016年9月

管理人员:王晓晓

电话:0515-88298395 / 88298394

主要配置及技术参数:

1、X射线发生器:最大输出功率:3 kW;

2、焦斑:长细焦斑12×0.4 mm及点焦斑;

3、测角仪扫描方式:q/q方式,角度重现性:< 0.0001°;

4、固定发散狭缝:4°、2°、1°、1/2°、1/4°、1/8°、1/16°、1/32°;°

索拉(Soller)狭缝:标准0.04 rad;

5、探测器:PIXcel1D矩阵探测器;工作方式:0维(点探测器),1维(阵列探测器模式,256道)。

仪器用途:

通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子、分子的结构或形态等信息。广泛适用于化学、材料学以及生物学等领域样品的定性和定量分析,在常温或非环境温度条件下,均可对粉末、块状材料以及薄膜进行分析。

送样要求:

1、送检样品必须为干燥的粉末、块状或薄膜等固体;粉末样品要求颗粒均匀;薄膜及块状样品要确保表面平整。

2、测定升温XRD时须告知所送样品的主要化学成分,同时,为避免损坏高温样品台,不接收以下样品的测试:

(1)碱金属和钡的氧化物、氢氧化物、氰化物、硫代硫酸钠和单质硅;

(2)含有重金属元素,如含汞、铂、铋、锡、锑、银、铜等化合物;

(3)含有卤素的化合物;

(4)含磷、砷、硫等元素的样品

(5)任何金属及合金的样品。

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