仪器型号：JEM-2100F（透射电子显微镜）、X-MaxN 80T IE250（能谱仪）

生产厂家：日本JEOL公司（透射电子显微镜）、英国牛津公司（能谱仪）

投入日期：2016年12月

管理人员：马成建

电 话：0515-88298394 / 88298130

主要配置及技术参数：

1、加速电压：200 kV；

2、点分辨率：0.19 nm；

3、线（晶格）分辨率：0.1 nm；

4、倾斜角：± 25 °

仪器用途：

固体物质微结构观察与分析；晶体结构及晶体缺陷分析；新材料制备方法、性能与结构关系的研究。

送样要求：

1、JEM-2100F透射电镜只接收材料类样品；

2、样品不得具有磁性、放射性、毒性和腐蚀性；

3、样品须经充分干燥并具有一定的稳定性，须确保当受到电子束照射时不产生挥发性、腐蚀性物质；

4、须提供样品的名称、分子结构和晶体结构等信息；

5、送样者需明确测试目的，即期望获得什么信息。