仪器型号：X'Pert3Powder
生产厂家：荷兰PANalytical公司
投入日期：2016年9月
管理人员：王小三
电话：0515-88298394 / 88298130
主要配置及技术参数：
1、X射线发生器：最大输出功率：3 kW；
2、焦斑：长细焦斑12×0.4 mm及点焦斑；
3、测角仪扫描方式：q/q方式，角度重现性：< 0.0001°；
4、固定发散狭缝：4°、2°、1°、1/2°、1/4°、1/8°、1/16°、1/32°；°
索拉(Soller)狭缝：标准0.04 rad；
5、探测器：PIXcel1D矩阵探测器；工作方式：0维（点探测器），1维（阵列探测器模式，256道）。
仪器用途：
通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子、分子的结构或形态等信息。广泛适用于化学、材料学以及生物学等领域样品的定性和定量分析，在常温或非环境温度条件下，均可对粉末、块状材料以及薄膜进行分析。
送样要求：
1、送检样品必须为干燥的粉末、块状或薄膜等固体；粉末样品要求颗粒均匀；薄膜及块状样品要确保表面平整。
2、测定升温XRD时须告知所送样品的主要化学成分，同时，为避免损坏高温样品台，不接收以下样品的测试：
（1）碱金属和钡的氧化物、氢氧化物、氰化物、硫代硫酸钠和单质硅；
（2）含有重金属元素，如含汞、铂、铋、锡、锑、银、铜等化合物；
（3）含有卤素的化合物；
（4）含磷、砷、硫等元素的样品；
（5）任何金属及合金的样品。
