仪器型号：ESCALAB 250Xi

生产厂家：美国热电公司

投入日期：2016年12月

管理人员：李清萍

电话：0515-88298395

主要配置及技术参数：

1、电子能量分析器：分析面积：20 µm~8 mm连续可调；工作模式：固定分析器能量（CAE）和固定减速比（CRR）；理论能量分辨：20 meV~8 eV（CAE），0.02%~2.0%（CRR）；

2、电子能量分析器电子学控制：能量范围：0~5000 eV；通过能：1~400 eV（CAE）；减速退压比：1~100（CRR）；

3、单色X射线源：微聚焦X射线源；电子枪工作电压：15 keV；阳极：水冷镀铝靶；束斑聚焦尺寸：20 µm~900 µm；

4、荷电中和源：电子束能量：0~5 eV（荷电补偿），1000 eV（成像/定位）；

5、离子源-样品清洁和深度剖析：离子束能量：100 eV~4000 eV

6、自动化五轴样品台：倾斜角度范围：-90°~+60°（基于水平方向）；计算机对中旋转：Avantage软件调节X和Z，旋转角度为0~360°。

仪器用途：

X-射线光电子能谱仪（XPS）是一种超微量高灵敏表面分析技术，用于研究各种固体材料样品表面（1~100 nm厚度）的元素种类、化学价态及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息；通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息；利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用。

送样要求：

1、所送样品须为完全干燥的粉末、块状或薄膜等固体样品，样品的物理化学性质稳定，无放射性、无毒性、无挥发性和腐蚀性。为避免破坏仪器超高真空度，不接收以下样品的测试：

（1）含有卤素（如F、Cl、Br、I）的化合物；

（2）在高真空条件下易挥发的样品，如含有单质Na、K、S、P、Zn、Se、As、I、Te、Hg等样品。

2、粉末样品送样量一般不小于2 mg，固体样品的尺寸要求0.5×1×1 cm，尺寸过大请自行加工。