JEOL JEM-2100F场发射透射电子显微镜

发布时间:2017-05-14作者:佚名文章来源:本站原创 浏览次数:

仪器型号:JEM-2100F(透射电子显微镜)、X-MaxN 80T IE250(能谱仪)

生产厂家:日本JEOL公司(透射电子显微镜)、英国牛津公司(能谱仪)

投入日期:2016年12月

管理人员:马成建

电 话:0515-88298394 / 88298130

主要配置及技术参数:

1、加速电压:200 kV;

2、点分辨率:0.19 nm;

3、线(晶格)分辨率:0.1 nm;

4、倾斜角:± 25 °

仪器用途:

固体物质微结构观察与分析;晶体结构及晶体缺陷分析;新材料制备方法、性能与结构关系的研究。

送样要求:

1、JEM-2100F透射电镜只接收材料类样品;

2、样品不得具有磁性、放射性、毒性和腐蚀性;

3、样品须经充分干燥并具有一定的稳定性,须确保当受到电子束照射时不产生挥发性、腐蚀性物质;

4、须提供样品的名称、分子结构和晶体结构等信息;

5、送样者需明确测试目的,即期望获得什么信息。

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