X-射线光电子能谱仪(XPS)

发布时间:2017-05-14作者:佚名文章来源:本站原创 浏览次数:

仪器型号:ESCALAB 250Xi

生产厂家:美国热电公司

投入日期:2016年12月

管理人员:李清萍

电话:0515-88298395

主要配置及技术参数:

1、电子能量分析器:分析面积:20 µm~8 mm连续可调;工作模式:固定分析器能量(CAE)和固定减速比(CRR);理论能量分辨:20 meV~8 eV(CAE),0.02%~2.0%(CRR);

2、电子能量分析器电子学控制:能量范围:0~5000 eV;通过能:1~400 eV(CAE);减速退压比:1~100(CRR);

3、单色X射线源:微聚焦X射线源;电子枪工作电压:15 keV;阳极:水冷镀铝靶;束斑聚焦尺寸:20 µm~900 µm;

4、荷电中和源:电子束能量:0~5 eV(荷电补偿),1000 eV(成像/定位);

5、离子源-样品清洁和深度剖析:离子束能量:100 eV~4000 eV

6、自动化五轴样品台:倾斜角度范围:-90°~+60°(基于水平方向);计算机对中旋转:Avantage软件调节X和Z,旋转角度为0~360°。

仪器用途:

X-射线光电子能谱仪(XPS)是一种超微量高灵敏表面分析技术,用于研究各种固体材料样品表面(1~100 nm厚度)的元素种类、化学价态及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息;通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息;利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用。

送样要求:

1、所送样品须为完全干燥的粉末、块状或薄膜等固体样品,样品的物理化学性质稳定,无放射性、无毒性、无挥发性和腐蚀性。为避免破坏仪器超高真空度,不接收以下样品的测试:

(1)含有卤素(如F、Cl、Br、I)的化合物;

(2)在高真空条件下易挥发的样品,如含有单质Na、K、S、P、Zn、Se、As、I、Te、Hg等样品。

2、粉末样品送样量一般不小于2 mg,固体样品的尺寸要求0.5×1×1 cm,尺寸过大请自行加工。

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